Traitement en cours...
Fermer la notification

Toutes nos lignes téléphoniques...

sont actuellement en dérangement du fait de l'opérateur (SFR), qui nous dit mettre tout en œuvre pour rétablir la situation dans les plus brefs délais mais jusqu'ici n'a pas réussi à le faire.
Nous restons cependant à votre disposition par d'autres moyens pour vous informer.
Si vous souhaitez connaître les dates estimées d’expédition des titres que vous avez commandés, pensez à simplement consulter le détail de vos commandes sur side.fr.
Si vous avez besoin d’une autre information, vous pouvez, selon votre urgence, écrire à notre service clients à france@side.fr ou appeler directement votre représentant ou appeler le 06 34 54 96 63, le numéro d'urgence temporaire que nous avons mis en place en attendant de retrouver notre accueil téléphonique habituel.

Afficher la notification

Cristallographie géométrique et radiocristallographie - 3ème édition - Livre+compléments en ligne

Rousseau Jean-Jacques, Gibaud Alain
Date de parution 07/03/2007
EAN: 9782100501984
Disponibilité Disponible chez l'éditeur
Ce manuel introduit les principes de base de la cristallographie géométrique, par l'étude des réseaux, des opérations de symétrie, du dénombrement et de la construction des groupes ponctuels et des groupes d'espace. L'ouvrage se consacre aussi à la r... Voir la description complète
Nom d'attributValeur d'attribut
Common books attribute
ÉditeurDUNOD
Nombre de pages384
Langue du livreFrançais
AuteurRousseau Jean-Jacques, Gibaud Alain
FormatOther book format
Type de produitLivre
Date de parution07/03/2007
Poids611 g
Dimensions (épaisseur x largeur x hauteur)0,00 x 17,00 x 24,00 cm
Ce manuel introduit les principes de base de la cristallographie géométrique, par l'étude des réseaux, des opérations de symétrie, du dénombrement et de la construction des groupes ponctuels et des groupes d'espace. L'ouvrage se consacre aussi à la radiocristallographie en décrivant la production des rayons X et leurs propriétés, avec l'étude de la diffraction. Des applications et des exercices corrigés illustrent les points importants du cours. Cette 3e édition, entièrement revue, intègre les nouvelles techniques de détermination des structures cristallines comme la réflectométrie X et les nouveaux détecteurs utilisés dans le domaine des nanotechnologies. Sur le web, en complément à l'ouvrage sont proposés un atlas des formes cristallographiques et un programme de visualisation et de simulation.